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航空アプリケーション用の堅牢なASIC

オン・セミコンダクターは、地球放射線被爆による厳しいFITレートが求められる航空用アプリケーションおよび製品に不可欠である、特定用途向け集積回路(ASIC)ソリューションを提供します。特性化試験データ、ソフトエラー認識設計フロー方法論、認定およびハンドリング・フローのコンビネーションによって、幅広い種類のアプリケーションにおいてASICの計画と設計におけるお客様の多様な選択肢を可能にします。オン・セミコンダクターの110 nm および 180 nmのデジタル・プロセスによって、スタンダード・セルとSRAM構造は、電圧と温度の全域で優れたニュートロン測定の結果をもたらしました。さらなるSEE(シングル・イベント効果 )の削減のために、設計された製品は、拡大された基板、冗長性、ECC(エラー訂正コード)の選択肢を含んでいます。オン・セミコンダクターの現在の商用デジタルASICフローを活用することによって、お客様は、優れた価格、開発期間及び製造サイクルタイムを得ることが出来ます。

ニュートロン測定結果

ONC18 FIT (sea level, NYC) 1.8 V
FIT per M bit
1.5 V
FIT per M bit
Dual Port SRAM 618 778
Single Port SRAM 492 704
Flip Flop* 313 529
*Single bit FIT only. Redundancy will significantly reduce FIT.
No SEL at 85°C, 1.93 V.
No MBU or SEFI.
ONC110 FIT (sea level, NYC) 1.20 V
FIT per M bit
HDSP SRAM 360
DP SRAM 290
Flip Flop* 358
*Single bit FIT only. Redundancy will significantly reduce FIT.
No SEL at 125°C, 1.26 V.
No MBU or SEFI.

航空用ソフトエラー緩和ソリューション

オン・セミコンダクターは、密度、電力及びパフォーマンスを考慮しながら、ソフトエラーを緩和するための幅広いデザイン・ソリューションを有しています。実績のある耐放射線設計(RHBD)技術とプロセスの拡大の融合は、傑出したニュートロン測定の結果をもたらしました。個々の、継続した、若しくは完全なモジュール三重冗長構成(TMR)にすることによって、当社は幅広い航空アプリケーションの設計とアプリケーション・ニーズに見合うためのASIC開発フローを構築することが可能です。