1 Mb バルク消去フラッシュ・メモリ

Overview

CAT28F010 は、システム内または販売後のコード更新を必要とするアプリケーションに最適な、高速 128k x 8 ビットの電気的に消去および再プログラミング可能なフラッシュ・メモリです。全メモリ内容の電気的消去は、通常 0.5 秒以内に達成されます。これは、標準の EPROM および EEPROM デバイスと互換性のあるピンおよび読み取りタイミングです。プログラミングと消去は、操作と検証アルゴリズムによって実行されます。命令は、2 つの書き込みサイクル方式を使用して、I/O バス経由で入力されます。アドレスとデータは、書き込み操作中に I/O バスとアドレス・バスを解放するためにラッチされます。CAT28F010 は、オン・セミコンダクターの高度な CMOS フローティング・ゲート技術を使用して製造されています。100,000 回のプログラム/消去サイクルに耐えるように設計されています。データ保持期間は 10 年です。このデバイスは、JEDEC 承認済みの 32 ピン・プラスチック DIP、32 ピン PLCC または 32 ピン TSOP パッケージで提供されます。

  • Automotive Systems
  • Communications Systems
  • Computer Systems
  • Consumer Systems
  • Industrial Systems

  • Fast read access time: 90/120 ns
  • Low power CMOS dissipation:
    –Active: 30 mA max (CMOS/TTL levels)
    –Standby: 1 mA max (TTL levels)
    –Standby: 100 μA max (CMOS levels)
  • High speed programming:
    –10 μs per byte
    –2 Sec Typ Chip Program
  • 0.5 seconds typical chip-erase
  • 12.0 V ±5% programming and erase voltage
  • Stop timer for program/erase
  • Commercial, industrial and automotive temperature ranges
  • On-chip address and data latches
  • JEDEC standard pinouts:
    –32-pin DIP
    –32-pin PLCC
    –32-pin TSOP (8 x 20)
  • 100,000 program/erase cycles
  • 10 year data retention
  • Electronic signature

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