IGBTs | HGTG30N60C3D

600V、パンチスルー（PT） IGBT

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HGTG30N60C3Dは、MOSFETの最高の機能と、バイポーラトランジスターを組み合わせたMOSゲート高電圧スイッチングデバイスです。 このデバイスは、MOSFETの入力インピーダンスが高く、バイポーラートランジスターのオン状態導電損失が低いです。 はるかに低いオン状態の電圧降下は、25℃～150℃でわずかに変化します。使用されるIGBTは開発型TA49051です。 IGBTと逆並列で使用されるダイオードは開発型TA49053です。 IGBTは、低い導電損失が重要である、適度な周波数で動作する、多くの高電圧スイッチング用途に適しています。 旧開発型TA49014。

  • その他の産業用
  • 63A、 600V、TC = 25°C
  • 通常の立ち下がり時間: 230ns @ TJ = 150°C
  • 短絡回路定格:
  • 低導電損失
  • 超高速逆並列ダイオード

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Case Outline

MSL Type

MSL Temp (°C)

Container Type

Container Qty.

ON Target

Family

V(BR)CES Typ (V)

IC Max (A)

VCE(sat) Typ (V)

VF Typ (V)

Eoff Typ (mJ)

Eon Typ (mJ)

Trr Typ (ns)

Irr Typ (A)

Gate Charge Typ (nC)

Short Circuit Withstand (µs)

EAS Typ (mJ)

PD Max (W)

Co-Packaged Diode

Reference Price

HGTG30N60C3D

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Obsolete

CAD Model

Pb

A

H

P

TO-247-3

340CK

NA

0

TUBE

450

No

-

600

30

1.5

-

-

-

52

-

-

-

-

-

Yes

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信頼性データ

Die Related Summary Data

Device: HGTG30N60C3D

Equivalent to wafer fab process: 2F,3B

製品技術

製品技術

等価デバイス時間

MTBF/MTTF (時間)

FITS

2F,3B

0

552010123

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Data is based on the following assumptions.

Note: The temperature and confidence level may be adjusted to your requirements.

Disclaimer: A reliability FIT rate calculated using this tool shall not be used for any functional safety purpose. In case a raw FIT rate needs to be estimated for a component which is targeted to be used in a safety critical application (i.e. compliant to ISO 26262 standard) it should be calculated according to generic safety standards (IEC62380, IEC61709, SN29500, FIDES, etc.)

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